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国标标准：GB/T 4937.20《半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分》
发布时间：2023-11-26        浏览次数：11        返回列表
国标标准：GB/T 4937.20《半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分》
标准编号国家标准名称实施日期
GB/T 4937.20-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分：塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响2019/1/1

GB/T 4937的本部分规定了塑封表面安装半导体器件(SMD)的耐焊接热评价方法。该试验为破坏性试验。

 

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